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    光學(xué)薄膜測厚儀,IRE-200是一款超高精度的外延層厚度測量設(shè)備,利用紅外光譜經(jīng)傅里葉變換進(jìn)行快速分析,主要應(yīng)用于Si、GaAs、InP、SiC、GaN等各類外...
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    2025/4/27 16:11:292683

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